IG-XL テスト ソフトウェア

IG-XLでは、競合ATE（Automated Test Equipment）製品のソフトウェアと比較して、マルチサイト・テストプログラムの開発に要する期間をおよそ30% 短縮できます。

• VBT（Visual Basic For Test）は高機能で習熟と使用が容易なプログラミング言語です。
  • デバイス中心のプログラミング
  • 効率が高く、他のATE プログラミング言語と比較して、必要なコード数が半分以下
  • コードの再使用が容易
  • コンパイルが不要で、デバイス動作に没頭してのデバッグが可能
• 設計時よりマルチサイト・プログラミング対応を重視しているので、シングルサイトからマルチサイトへの変換がきわめて容易です。
  • 並列テスト数の変動を動的に自動管理（テストエンジニアによる管理は不要）
  • プログラムで使用する変数の構造もマルチサイト・テスト前提であり、シングルサイト・プログラムのまま並列実行可能
  • プログラムフロー制御はデバイス毎の個別処理にも対応
• True CT（Concurrent Test）を使用してコンカレントテストを短時間で最適化できます。
  • シリアル実行とコンカレント実行を同一テストコードで実現
• モジュラー方式のテスト開発により、効率的なテストプログラムの共同開発とコードの再使用が可能です。

IG-XLでは量産立ち上げの初期段階から最適なスループットが得られるので、利益享受までの期間を短縮できます。

• IG-XL に精通していなくても、プログラミング上級者の助けを借りずにきわめて効率的なテストプログラムを作成可能です。
• 真の並列テスト・ソフトウェアとシステム・ブロードキャスト機能により、高い並列テスト効率を実現します。
• バックグラウンドDSP により、特別なコードを作成することなく、バックグラウンドでのデータ転送とマルチスレッド DSP演算の恩恵を受けられます。
• True CT（Concurent Test）とCT Optimizerにより、コード変更なしに、高いコンカレントテスト効率を実現します。
• すべての実行状態をタイムライン（Timeline）ツールで視覚的に確認できるので、迅速にスループットのボトルネックを特定し、最適化できます。

IG-XL には、イールド向上に必要な診断データを効果的かつ効率的に収集するために必要な各種ツールが用意されています。

• イールドを改善するには、テストコストに影響を及ぼさずに大量のテスト データを収集する必要があります。IG-XL を使用し、データの収集を低コストで容易なものにすることで、規定のイールド達成が短時間でできます。
• Scan Fail Processing Template を使用すると、スキャン障害を迅速に収集し、STDF または EDA に固有な形式で記録できます。
• IG-XL は、そのオープンで拡張可能な設計により、どのような設計とテスト エコシステムにも容易に統合できます。
• IG-XL と一緒に Teseda の Scan Workbench を使用すると、リアルタイムで対話形式のスキャン障害デバッグ解析ソリューションとなります。このソリューションは、故障解析およびデバイスの立ち上げと特性評価に使用できます。

テスト プログラムに誤りがあると、欠陥の見逃しにつながる可能性があります。IG-XL の各種ツールを使用することによって、プログラミング上の問題を量産環境へのリリース前に排除することができます。

• IG-Review: よくあるプログラミング上の誤りやその他の潜在的な問題がないか、テスト プログラムを監査します。
• リアルタイム監査ツール: テスターのプログラムをその実行中に監視し、デバイスやインターフェイスのハードウェアが過負荷になるような形でデバイス固有のルールに対する違反が発生していないことを確認します。
• IG-Diff: テスト プログラムの複数のバージョンを比較し、リリース ドキュメントを作成します。意図しない変更が量産テストにリリースされないようにする上で効果的です。

IG-XL は拡張可能でカスタマイズ可能なソフトウェア環境であるため、ユーザーのコミュニティーや独立系ソフトウェア ベンダー（ISV）によってアドオン ソフトウェア ソリューションが豊富に開発されています。

これらのソリューションによって、IG-XL の設計からテスト、テスト開発、デバッグ、およびデータ解析などの機能を拡張できます。