高性能なデジタルと SoC に最適化したテスト システム

J750ExマイクロコントローラやSoC デバイスなどにも RF が広く使用されるようになりました。それに伴い、J750 テストシステムにLitePointインスツルメントを導入することで、ワイヤレス・コネクティビティ規格と携帯電話規格に広く対応した、コスト効率に優れた量産テストソリューションを実現しています。J750-LitePoint は、インスツルメント内の専用DSP による高スループットの RF 信号処理、広範なワイヤレス・ソフトウェア・ライブラリーおよび包括的なデバッグツールを提供します。J750 は、これまで同様に優れたコスト効率で迅速な商品化を実現すると同時に、これまでよりも広範なデバイス領域をテストできるようになりました。

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  • 用途

    ワイヤレス対応マイクロコントローラ

    コネクティビティ SoC

    GPS、FMおよびテレビ・チューナ

  • 特長

    J750テストシステム向け RFアップグレード

    • すべての J750 テストシステム(J750、J750Ex、J750Ex-HD)をシステム・アップグレードして利用できます。
    • 既存の J750 インスツルメントおよびハードウェア・オプションをそのまま使用できます。

    J750 テストシステム・ソフトウェアおよびハードウェアとの統合

    • テストプログラム開発とデバッグで IG-XL™ソフトウェアを活用できます。
    • LitePoint RF ツール・セットと変調ライブラリーを装備しています。

    RF 信号伝送の最適化設計

    • DIB(Device Interface Board)との信頼性の高い信号インタフェースで 6 GHz の性能を実現します。
    • 最大 32 の RF ポートをサポートすることより、多並列テストに対応しています。

    柔軟なLitePoint オプションの構成

    • ワイヤレス・コネクティビティや携帯電話のテスト要求に柔軟に対応するスケーラブルな構成です。
    • LitePoint システム毎に専用DSP を有しているので、バックグラウンドでの高速演算処理が可能です。
    • 既存の LitePoint アプリケーションを使用できます。
  • 構成

    J750-LitePoint

    • すべての J750テストシステムを システム・アップグレードして利用できます。
    • 最大 32 のRFポートをサポートします。
    • ワイヤレス・コネクティビティや携帯電話のテスト要求に柔軟に対応するスケーラブルな構成です。
  • システムオプション

    RF オプション

  • ソフトウェア

    IG-XL-245x100-Teradyne高い評価を得ているテラダインの IG-XL ソフトウェアは、テストプログラム開発を変革します。高機能ながらも使いやすいそのグラフィカル環境により、完成度の高いテストプログラムを短期間で開発でき、プログラムの開発とデバッグに要する時間を短縮します。並列テストの複雑さに対処することを重視して設計されたIG-XL では、シングルサイト・テストプログラムを自動的にマルチサイト・テストプログラムに変換できるので、商品化期間の短縮とテストコストの削減が実現できます。IG-XL の使用により、テストエンジニアは、テスターのコードを書くことに時間を取られることなく、実際のテストに集中できます。

    IG-XL ソフトウェアの詳細