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Magnum 2 メモリ テスト システム

Magnum2

高性能で低コスト、高効率な並行メモリ テスト ソリューション

テラダインの Magnum 2 テスト システムは、高性能な不揮発性メモリ、スタティック RAM メモリ、およびロジック デバイス向けに、高スループットおよび並行テストでの高い効率を実現します。最大規模で構成した Magnum 2 では最大で 5,120 のデジタル チャネルを使用できます。また、どの構成でもチャネルごとに、220 MHz のパターン速度、400 MHz のクロックとデータ、および 800 Mbps の SuperMux データが得られます。

用途 特長 構成 システムオプション ソフトウエア

Memory

  • NOR Flash
  • NAND Flash
  • SRAM
  • DRAM
  • MEMs

SOC

  • Microcontroller
  • Low-end SOC
  • Converters

スケーラブルなプラットフォーム

  • 少チャネルのエンジニアリング ソリューションから多チャネルの生産ソリューションまで、優れたスループットと高い並行テスト効率を維持し

マルチサイト アーキテクチャ

  • 最大 64 本のデバイス ピンを備えた NOR フラッシュ デバイスを最大 80 個および最大 16 本のデバイス ピンを備えた NAND フラッシュ デバイスを最大 320個テストできます。
  • 最大 16 本のデバイス ピンを備えた NOR フラッシュ デバイスを最大 320個または最大 8 本の DUT ピンを備えたフラッシュ デバイスを 640個テストできます。

デュアル バンク ECR

  • ハードウェア アクセラレーターと RA プロセッサーを備えています。
  • キャプチャーとスキャンの同時実行により、テスト時間を短縮します。

フル スピード ECR

  • すべてのチャネルで 800 Mbps のキャプチャーを実現します。

チャネルごとの独自データ

  • DUT 単位での DRAM eFuse および NAND 不良ブロック管理が可能です

ロジック テストの範囲

  • 混合パターンが可能です。
  • トポ スクランブルによるフル APGを装備しています。
  • ピン単位の LVM ベクトル メモリによるフル ロジック パターン シーケンサーを持っています。
  • 同一パターン内で APG と LVM のシーケンスが可能です。

Magnum 2 EV

  • 自己完結型の低電力エンジニアリング テスト システムです。
  • テスト プログラムの開発とデバッグを必要とするお客様と実験アプリケーション向けです。
  • 最大 128 のデジタル I/O ピンとオプション基板 (DPS、VRC、または MPAC) を利用できます。
  • 内蔵エア コンプレッサーを備えているので、ロード基板のラッチ機構の動作に施設の圧縮空気を必要としません。
  • AC 電源規格 110V (欧州では AC 220V) で動作します。

Magnum 2 PV

  • 128 ピン刻みで最大 640 のデジタル I/O ピンを 5 スロット シャーシでサポートします。
  • デジタル I/O チャネルの該当数と一致する複数の DPS、VRC、または MPAC の各オプション基板を使用し、メモリとロジックの複雑な用途に合致するように構成できます。

Magnum 2 SV

  • ハイミックスな運用ソリューションです。
  • 並行テスト向けに最大 1,024 のデジタル ピンを備えます。
  • ファイナルテストおよびウエハーソートの生産に対応します。
  • ヒンジやカラムのマニピュレータなどの業界標準のハンドラーおよびウエハー プロバーが使用可能です。

Magnum2 SSV FT

  • ファイナルテスト用途向けです。
  • 最大 2,560 のデジタル チャネルを構成できます。
  • 超大容量デバイス ハンドラーへの直接ドッキングを実現するためにテラダインのバーティカル プレーン マニピュレータを組み込んでいます。
  • シングルキャビティまたはデュアル キャビティのハンドラー構成の接続が可能です。
  • ドッキング ハードウェアはシステムに取り付けられています。

Magnum 2 SSV WS

  • ウエハー ソート用途向けです。
  • 最大 2,560 のデジタル チャネルを構成できます。
  • 多くのサードパーティ製のヒンジとカラムのマニピュレータに容易に組み込むことができます。インターフェイスをラッチするプロバーと通信を行いマニピュレータ モーター ロックアウト ソリューションが用意されています。

Magnum GV FT

  • ファイナルテスト用途向けです。
  • 最大 5,120 のデジタル チャネルを構成できます。
  • 超大容量デバイス ハンドラーへの直接ドッキングを実現するためにテラダインのバーティカル プレーン マニピュレータを組み込んでいます。
  • シングルキャビティまたはデュアル キャビティのハンドラー構成の接続が可能です。
  • ドッキング ハードウェアはシステムに取り付けられています。

Magnum GV WS

  • ウエハー ソート用途向けです。
  • 最大 5,120 のデジタル チャネルを構成できます。
  • サードパーティ製のヒンジとカラムのマニピュレータに容易に組み込むことができます。
  • インターフェイスをラッチするプロバーと通信を行いマニピュレータ モーター ロックアウト ソリューションが用意されています。

MPAC

  • アナログのソースとキャプチャーのオプションです。
  • ソース、キャプチャー、Vref の 24 チャネル構成または 48 チャネル構成が用意されています。
  • さまざまなテスト用途向けの電圧基準を備え、埋め込みコンバーターが用意されています。
  • 任意のインスツルメント チャネルで使用できるパラメトリック測定ユニット (PMU) が組み込まれています。

DPS

  • ピンが少ないデバイスで高並行度テストを実施するためのオプションです。
  • リソースの利用率とデバイスの並行処理を最大化します。
  • 32 チャネル構成と 64 チャネル構成が用意されています

VRC

  • 電圧基準チャネルのオプション
  • 32 チャネル構成と 63 チャネル構成が用意されています。
  • アプリケーション プログラミング インターフェイス (API) を使用してプログラム可能です。

MPAC24/DPS32

  • 24 の MPAC チャネルと 32 の DPS チャネルを組み合わせたオプション

VRC32/DPS32

  • 32 の VRC チャネルと 32 の DPS チャネルを組み合わせたオプション

TCALDX

  • 高スループットで低コストのデジタル チャネル キャリブレーションのオプション
  • ハードウェアとソフトウェアによるソリューションで、「リレーツリー」方式キャリブレーション手法よりも迅速にシステムをキャリブレーションします。

トレーサビリティ

  • NIST 認定測定器によりトレーサビリティに対応しています。 (Magnum 2システムは、NIST に直接は適合していません)
  • AC 測定では、TCALDX ポートによって、Magnum 2 の AC サブシステムにサイト アセンブリあたり 1 つ搭載されている内部水晶にアクセスできます。デジタル カウンター ケーブルを通じてタイミング パスが NIST 認定の Stanford Research SR620 カウンター (または同等品) に導かれ、AC トレーサビリティの手段を実現します。
  • DC 測定では、TCALDX ポートによって、Magnum 2 の DC サブシステムに搭載された基準電圧にアクセスできます。基準電圧はサイト アセンブリ上の各 DP 基板から供給され、デジタル マルチメーター ケーブルを通じて NIST 認定の Agilent 3458A マルチメーター (または同等品) に導かれて、DC トレーサビリティの手段を実現します。

インターフェイス ソリューション

  • DIB、PIB、ロードカード、キャリブレーション ボード、DUT ボード スティフナーキット、プローブ カードスティフナーキット。ファイナルテスト インターフェイス、ウエハー プローブ インターフェイス、ドッキング ソリューション、およびテスト セルインテグレーション。

Magnum OS は、DUT ベースのマルチサイト アーキテクチャです。Magnum のソフトウェアは、真のデバイス指向の並行テスト プログラミング環境をテスト エンジニアに提供するように設計されています。テスト エンジニアが 1 つのデバイス向けのテスト プログラムを作成すると、システムのハードウェアにより、そのテストのクローンが複数のサイトに自動的に作成されます。Magnum 2 EV または Magnum 2 PV で開発したテスト プログラムを生産バージョンの Magnum 2 で使用すると、最大限の並行テストを実行できます。すべてのソフトウェア ツールはサイトを認識できるので、どの DUT サイトでも、サイトを 1 つのみとしたテスターを使用している感覚でデバイスの性能を調査できます。