トップ > 製品情報 > セミコンダクタテスト > UltraFLEX-M テスト システム

UltraFLEX-M テスト システム

高速メモリ・テストソリューション

UltraFLEX-HSMUltraFLEX-Mは、実績のあるUltraFLEX テストシステムの高度なテストテクノロジとシステムアーキテクチャを基本として構築されており、高速メモリ・デバイスの高品質かつ低コストのテストを実現します。

用途 特長 構成 インスツルメント・オプション ソフトウエア

コンピューティング

DDR3、DDR4

グラフィックス

GDDR3、GDDR5、HBM

モバイル

LPDDR2、LPDDR3、LPDDR4

スケーラブル・テストシステム

  • 開発評価、ファイナルテストおよびKGD(Knoown Good Die = 実績ある高品質ダイ)のウェハーテスト用途に単一のテストシステムで対応します。
  • ハードウェアとソフトウェアは、100%の互換性を備えています。
  • テスターの構成変更と追加を容易にする汎用スロット・アーキテクチャを採用しています。

高性能デジタル

  • 高いイールドと大きなテストマージンが得られる仕様となっています。
  • 構成変更が容易なチャンネル構成を採用しています。たとえば、すべてのチャンネルを I/O チャンネルとする事も可能です。
  • 総合的に低コストなテストを可能にします。

高性能デバイス電源

  • プログラム可能なDPS(Device Power Supply) は、デバイスへの最適な電源供給によって、より高いイールドを実現できる動的応答特性を備えています。
  • DPSの電圧と電流のプロファイルによって、テスト実行中のサージに対するチャンネルの反応を視覚的に把握できます。

パラメトリック測定

  • すべてのチャンネルでパラメトリック測定を並列に実行できるので、テスト時間を短縮できます。
  • ピン・スライス・プロセッサーが並列動作し、PMU (Parametric Measurement Unit)ごとにテスト結果を判定します。

IG-XL ソフトウェア

  • グラフィカルで使いやすい環境で、迅速なテストプログラム開発とデバイスの特性評価が可能です。
  • Microsoft Excel を基本としているので、汎用性が高く安定したプログラミング環境が得られます。
UltraFLEX-MConfigs

UItraFLEX-ME

  • 12 スロットを備えたエンジニアリング・テストシステム

UItraFLEX-MP

  • 36 スロットを備えた量産テストシステム

UItraFLEX-HPC

  • 72 スロットを備えた量産テストシステム

UItraFLEX-HPI

  • 36 スロットを備えた KGDプローブ・テストシステム

デジタル

  • HPM 2.8G 拡張 IO
  • HPM 4G 拡張 IO
  • HPM 8G 拡張 IO (ジッター印加オプションが用意されています)

アナログ

  • DC30
  • HDVS
  • UVS256

IGXL高い評価を得ているテラダインの IG-XL ソフトウェアは、テストプログラム開発を変革します。高機能ながらも使いやすいそのグラフィカル環境により、完成度の高いテストプログラムを短期間で開発でき、プログラムの開発とデバッグに要する時間を短縮します。並列テストの複雑さに対処することを重視して設計されたIG-XL では、シングルサイト・テストプログラムを自動的にマルチサイト・テストプログラムに変換できるので、商品化期間の短縮とテストコストの削減が実現できます。IG-XL の使用により、テストエンジニアは、テスターのコードを書くことに時間を取られることなく、実際のテストに集中できます。

IG-XL ソフトウェアの詳細