-
Expand All
-
テスト・プログラミング・サービス
- デバイスのテスト技法や問題点の解決法を短期間で提供
- プロダクション移行にともなう問題の解決
- 量産テストでの最適化をサポート
- デバイスのライフサイクルに対応した継続的なアプリケーション・サポート
-
ハードウエアの開発
- デバイス・インタフェースやモジュールの設計と製作
(パワーRF、ミックスド-シグナル、VLSI、メモリ デバイス対応) - ハンドラ / プローバのインタフェース・ボードとモジュールの品質管理
- テストヘッド・チャネルの開発(カードを活かすカスタム設計)
- パラレルテストによるテスト時間の短縮
- デバイス・インタフェースやモジュールの設計と製作
-
ソフトウエアの開発
- ソフトウエア・ライブラリとコア・プログラムの開発
共通のアプリケーションで使用できる再利用可能なプログラムを開発 - プロダクション移行以前の特性評価サポート
- 量産プログラムの最適化サポート
- 設計の最適化とデバイス・テスタビリティのための情報を提供
- ロジック・パターン・コンバータの作成
- プログラム開発時間を短縮するためのATPG(Automatic Test Program Generator)ソフトウェアの開発
- ソフトウエア・ライブラリとコア・プログラムの開発
-
スキル向上のサポート
- プログラミング・トレーニングクラスの開催
- テクニカル・セミナーの開催とプレゼンテーション
- 継続的な技術知識の公開と普及
- Teradyne Users Group(TUG)
- International Test Conference(ITC)への参加