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  • テスト・プログラミング・サービス
    • デバイスのテスト技法や問題点の解決法を短期間で提供
    • プロダクション移行にともなう問題の解決
    • 量産テストでの最適化をサポート
    • デバイスのライフサイクルに対応した継続的なアプリケーション・サポート
  • ハードウエアの開発
    • デバイス・インタフェースやモジュールの設計と製作
      (パワーRF、ミックスド-シグナル、VLSI、メモリ デバイス対応)
    • ハンドラ / プローバのインタフェース・ボードとモジュールの品質管理
    • テストヘッド・チャネルの開発(カードを活かすカスタム設計)
    • パラレルテストによるテスト時間の短縮
  • ソフトウエアの開発
    • ソフトウエア・ライブラリとコア・プログラムの開発
      共通のアプリケーションで使用できる再利用可能なプログラムを開発
    • プロダクション移行以前の特性評価サポート
    • 量産プログラムの最適化サポート
    • 設計の最適化とデバイス・テスタビリティのための情報を提供
    • ロジック・パターン・コンバータの作成
    • プログラム開発時間を短縮するためのATPG(Automatic Test Program Generator)ソフトウェアの開発
  • スキル向上のサポート
    • プログラミング・トレーニングクラスの開催
    • テクニカル・セミナーの開催とプレゼンテーション
    • 継続的な技術知識の公開と普及
      • Teradyne Users Group(TUG)
      • International Test Conference(ITC)への参加

    GSOアプリケーション/先進的な技術力/高度なトータルソリューションを提供